LABORATORIO UNIVERSITARIO DE MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA
Misión del Laboratorio
Líneas de Investigación
El LUME tiene como objetivo científico la caracterización estructural a nivel micrométrico y nanométrico de los materiales, así como realizar estudios de análisis estructural por difracción de electrones, análisis químico por fluorescencia de rayos X, análisis de morfología y microestructura por Microscopía Electrónica.
Caracterización microestructural de materiales, análisis químico por fluorescencia de Rayos X, análisis de morfología y microestructura por microscopía electrónica.
Servicios
Microscopio Electrónico de Transmisión (TEM) JEOL JEM-ARM200F.
Microscopio Electrónico de Barrido (SEM) JEOL JSM-7600F.
Microscopio analítico con resolución atómica, equipado con un Corrector de Aberración Esférica (Cs) en modo STEM en su configuración estándar, lo que permite obtener una resolución de 82 pm en modo STEM. En modo HAADF permite diferenciar la química elemental a través de contrastes. Además, cuenta con un detector EDS para medir química elemental de manera Semicuantitativa.
El equipo permite:
Observar la estructura atómica de los materiales
Medir mediante técnicas de campo claro o campo oscuro, la distribución de los átomos.
Hacer difracción de área selecta y nano difracción.
Especificaciones de las muestras:
El empleo de este modo permite visualizar sitios de columnas atómicas de elementos ligeros en muestras cristalinas en materiales que sean menores a un espesor de 100 nanómetros y que no contengan algún solvente ni humedades. Simultáneamente, es posible obtener imágenes en modo STEM-HAADF, debido a que la distancia entre el detector HAADF y BF está optimizado, permitiendo que la posición de los sitios de las columnas atómicas pueda ser estimadas directamente.
Microscopio equipado con cañón de emisión de campo tipo Schottky, permite obtener imágenes con alta resolución espacial y optimizar su funcionalidad analítica. Cuenta con un Lente objetiva Semi-In Lens que permite obtener ultra alta resolución.
Además el SEM está equipado con 4 detectores para la obtención de imágenes. Dos detectores de electrones secundarios, uno colocado fuera de la lente objetiva (LEI) y otro detector tipo In Lens (SEI). Dos detectores de electrones retrodispersados, uno colocado fuera de la lente objetiva (LABE-Low Angle Backscattered Electrons) y otro colocado dentro de la columna (RIBE).
El equipo permite:
Realizar detección de Impurezas
Determinar frontera de grano
Observar la distribución del material (electrones secundarios)
Observar la distribución de los elementos en la superficie (electrones retrodispersados)
Especificaciones de las muestras:
Para realizar análisis químico por medio de la técnica de espectroscopía por barrido se requiere que las muestras no contengan humedad ni solventes y el tamaño puede ser relativamente grande no mayor a 15 cm.
Haz de Iones Focalizado (FIB) Jeol JEM-9320FIB.
Unidad de micro maquinado con Haz de Iones focalizado para preparación de muestras para microscopía electrónica de transmisión (TEM) y microscopía electrónica de barrido (SEM). El FIB está equipado con una fuente de Iones de Galio (Ga) y puede funcionar en un intervalo de voltajes de aceleración de 5 KV hasta 30 kV. Por medio de este dispositivo es posible realizar depósitos de películas delgadas de Pt.
El equipo permite:
Preparar muestras de transmisión
Preparar para muestras de Barrido
Estudiar superficies, recuperando electrones secundarios.
Micro y nano fabricación
Especificaciones de las muestras:
Se requiere que las muestras no contengan humedad ni solventes y el tamaño puede ser relativamente grande no mayor a 15 cm.
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Responsable
Dr. Omar Novelo Peralta
Técnico Académico Titular “A” de Tiempo Completo PRIDE C
Departamento de Materiales Metálicos y Cerámicos
Egresado de la Facultad de Ingeniería de la UNAM como ingeniero mecánico. Cuenta con la maestría en Ciencia e Ingeniería de Materiales por el Instituto de Investigaciones en Materiales de la UNAM.
Es doctor en Ingeniería en el área de mecánica aplicada por la división de estudios de posgrado de la Facultad de Ingeniería de la UNAM.(DEPFI-UNAM)
Desde el 2009 se ha desempeñado como responsable de los equipos de microscopía electrónica de barrido en donde ha apoyado en el estudio microestructural y químico de diversos tipos de materiales de los proyectos desarrollados dentro del Instituto. Como resultado del trabajo realizado dentro del laboratorio ha participado como autor y coautor de 27 artículos en revistas tanto nacionales como internacionales, ha recibido agradecimientos en 10 tesis de licenciatura, maestría y doctorado, ha recibido 20 agradecimiento en revistas internacionales.
Responsable
Fis. Josué Esaú Romero Ibarra
Técnico Académico Asociado “C” de Tiempo Completo PRIDE B
Departamento de Materiales Metálicos y Cerámicos
Físico egresado de la Facultad de Ciencias de la UNAM. Especialista en Microscopía Electrónica. Participó como responsable de los laboratorios microscopía electrónica de Barrido (SEM) y de microscopia de sonda de barrido (SPM), en la Laboratorio Avanzado de Nanoscopía Electrónica (LANE) del CINVESTAV, Hasta el 2014 donde se incorpora a trabajar en el Laboratorio Universitario de Microscopía Electrónica (LUME). Encargado de la operación, mantenimiento y asesoramiento de los equipos de Microscopía Electrónica de Transmisión. Además, es corresponsable en Microscopía por Iones Focalizados, así como también participa en los análisis, operación y asesoría en Microscopía Electrónica de Barrido. Dentro de los laboratorios, busca apoyar, asesorar e impulsar el trabajo en su área, teniendo como producción artículos y trabajos como autor y coautoría en revistas de alto impacto.
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